Leica EM TXP este un dispozitiv de pregătire a țintei pentru frezare, tăiere, șlefuire și lustruire a probelor înainte de examinare prin tehnici SEM, TEM și LM. Un stereomicroscop integrat permite identificarea și pregătirea ușoară a țintelor abia vizibile.
Control automat integrat al procesului
Controlul integrat al procesului cu mecanism automat de ghidare EW, controlul de alimentare cu forță reglată și funcția de numărătoare inversă salvează utilizatorul de la pregătirea de rutină a probelor, care a necesită timp.
Finisarea suprafeței și examinarea țintei
Finisarea suprafeței și examinarea țintei cu stereomicroscopul integrat înseamnă că utilizatorul nu trebuie să transfere proba pentru estimarea distanței și evaluarea suprafeței, ceea ce crește eficiența utilizatorului.
Inspecția probelor multistrat
Flux de lucru în controlul calității: Combinarea sistemului de suprafață țintă EM TXP și microscopul luminos DM2700 M permite reducerea procedurii necesare, fluidizarea fluxului de lucru și producerea de rezultate fiabile și precise.
Accesează produs
Creșteți eficiența muncii cu microscoapele digitale verticale de cercetare Leica DM4 B și DM6 B.
Accesează produs
Microscop educațional cu capacitate de „plug and play”
Accesează produs
Microscop motorizat pentru inspecție optică multifuncțională avansată
Accesează produs
Microscop cu sistem ergonomic unic
