Producerea de acoperiri de metal sau carbon omogene și conductoare pentru analiza SEM și TEM nu a fost niciodată mai convenabilă decât cu sistemul de acoperire Leica EM ACE200. Configurat ca un dispozitiv de acoperire prin pulverizare sau un strat de carbon prin evaporare, pot fi obținute rezultate perfect reproductibile în sistemul complet automatizat.

Dacă ambele metode sunt necesare pentru analiza dumneavoastră, Leica Microsystems oferă un instrument combinat cu capete interschimbabile într-un singur instrument. Diverse opțiuni, cum ar fi măsurarea cristalului de cuarț, rotația planetară, descărcarea strălucitoare și ecranarea inter-schimbabilă completează acest aparat de acoperire cu vid redus.